在第八屆國(guó)防電子展會(huì)上，來自航天系統(tǒng)、**院校和軍方的一線測(cè)試系統(tǒng)研發(fā)、應(yīng)用及計(jì)量研究的專家學(xué)者認(rèn)為，作為一個(gè)高技術(shù)、資本密集、橫跨多個(gè)學(xué)科并且強(qiáng)調(diào)多年技術(shù)積累的行業(yè)，我國(guó)在測(cè)試儀器方面與國(guó)外企業(yè)的差距是多方面的，不僅僅是技術(shù)、經(jīng)驗(yàn)和資金不足，更重要的是在概念、標(biāo)準(zhǔn)和理念等方向的差距和在決策方面的不夠重視。
　　
　　我國(guó)在測(cè)試儀器方面與國(guó)外企業(yè)的差距是多方面的，不僅僅是技術(shù)、經(jīng)驗(yàn)和資金不足，更重要的是在概念、標(biāo)準(zhǔn)和理念等方向的差距和在決策方面的不夠重視。
　　
　　業(yè)內(nèi)專家認(rèn)為，對(duì)國(guó)產(chǎn)測(cè)試儀器而言，我們始終是跟著別人的腳步在學(xué)習(xí)，在追趕，這是技術(shù)方面存在的*大問題。
　　
　　在應(yīng)用測(cè)試中，制約本土測(cè)試儀器應(yīng)用一個(gè)更重要的問題來自于核心半導(dǎo)體器件的缺失：國(guó)內(nèi)的測(cè)試儀器企業(yè)，無論是老牌國(guó)有研究所還是新興的私有測(cè)試儀器企業(yè)，自身具備的芯片研發(fā)能力相比國(guó)際巨頭有較大的差距。可以說，測(cè)試用的芯片因?yàn)槠涮厥獾囊恍┮螅谑袌?chǎng)上是很難找到相關(guān)合適的產(chǎn)品，特別是在信號(hào)分析和信號(hào)采集方面，模擬前端技術(shù)和信號(hào)采集技術(shù)的不足，直接體現(xiàn)在國(guó)產(chǎn)的測(cè)試儀器無法捕獲需要的一些特征信號(hào)，比如雷達(dá)和微波技術(shù)的絕大部分需求，商用芯片是無法滿足其測(cè)試需求的，這樣的結(jié)果是，國(guó)產(chǎn)的測(cè)試儀器廠商不是不知道怎么去滿足，而是沒有相關(guān)的半導(dǎo)體器件能夠做出滿足這些采樣率、帶寬需求的產(chǎn)品，而這兩點(diǎn)，恰恰是實(shí)際應(yīng)用中許多信號(hào)分析和信號(hào)處理的前提。
　　
　　一位計(jì)量研究領(lǐng)域的專家分析，抹平技術(shù)上的差距，不是一蹴而就的事情。但比起技術(shù)上的差距，我們?cè)跍y(cè)試儀器上存在的觀念和思維的差距更大。
　　
　　測(cè)試儀器是個(gè)資本密集型企業(yè)，企業(yè)的生產(chǎn)規(guī)模很重要，測(cè)試儀器又是一個(gè)市場(chǎng)比較小的行業(yè)，因?yàn)閮x器種類繁多，所以單個(gè)儀器種類的市場(chǎng)注定不可能很大。這給中國(guó)企業(yè)迎頭趕上增加了更大的難度，一方面，作為技術(shù)密集型和積累型行業(yè)，面對(duì)這么多已經(jīng)**很多的國(guó)外競(jìng)爭(zhēng)對(duì)手，要把測(cè)試儀器做大做強(qiáng)，就要有足夠多的投入，并且短期內(nèi)不要指望回報(bào)，這一點(diǎn)無疑僅靠一些私企是很難有這么強(qiáng)大的財(cái)力去做支撐的。
　　
　　因此，必須要有國(guó)家戰(zhàn)略高度的規(guī)劃和相關(guān)資源的大力支撐，才有機(jī)會(huì)去不斷縮小差距。另一方面，因?yàn)槭袌?chǎng)不大，所以就更要強(qiáng)調(diào)企業(yè)研發(fā)的連續(xù)性和專注性，而對(duì)于國(guó)內(nèi)的私企來說，他們面臨著生存的壓力，而對(duì)于很多國(guó)有科研院所而言，他們也面臨創(chuàng)收指標(biāo)以及各種前沿課題的研究，無法專注于對(duì)一兩類的產(chǎn)品進(jìn)行精耕細(xì)作。
　　
　　“測(cè)試測(cè)量和儀器儀表產(chǎn)業(yè)，是國(guó)內(nèi)一些重要領(lǐng)域必須的保障，也是研發(fā)前沿科技的利器。”業(yè)內(nèi)專家呼吁，測(cè)試儀器的問題雖然基礎(chǔ)，但不是小問題，是國(guó)家在軟件和硬件方面不足的集中體現(xiàn)，解決測(cè)試儀器的落后問題，需要的是國(guó)有科研機(jī)構(gòu)和企業(yè)，以及民營(yíng)和私營(yíng)企業(yè)共同努力，需要從標(biāo)準(zhǔn)到架構(gòu)到概念的一系列測(cè)試體系的逐步建立。

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